WGL-8晶体电光调制实验仪由电场所引起的晶体折射率的变化，称为电光效应．通过利用典型的LiNbO3晶体横向电光效应原理的激光振幅调制器的使用，掌握晶体电光调制的原理和实验方法；学会用简单的实验装置测量晶体半波电压，电光常数；观察电光效应引起的晶体光学特性的变化和会聚偏振光的干涉现象；进行激光通信演示实验。

SGD-2 单光子计数实验系统 该实验系统，由单光子计数器，半导体制冷系统，外光路光学系统，光功率指示仪，工作软件等组成。系统采用了脉冲高度甄别计数和数字计数技术，具有较高的线性动态范围。输出的数字信号，便于计算机处理，为教师做相关教学提供了必要的实验环境。

XGS-1 电子散斑干涉实验系统 电子散斑干涉（ESPI）实验系统借助于粗糙表面信息的携带者——散斑来研究物体离面形变，是计算机图像处理技术、激光技术以及全息干涉技术相结合的一种现代光测技术。激光的高相干性使散斑现象显而易见，采用CCD摄像机，使之可采用计算机处理数据和图像。电子散斑干涉应用广泛，如物体形变测量、无损测量、振动测量等。

XGS-2 激光散斑照相实验装置 利用二次曝光散斑图进行物体表面面内位移场的测试，以及由此引伸出来的应变，距离，速度测试，物体内在缺陷和振动分析是散斑效应有前途的应用领域。 实验内容 1、拍摄自由空间散斑和成像散斑图，了解激光散斑现象及其特点 2、掌握二次曝光散斑图的逐点分析和全场分析测物体面内位移的方法

XGS-3 电子及激光散斑实验系统 本实验包括激光散斑照相和电子散斑干涉两部分。利用二次曝光散斑图进行物体表面面内位移场的测试，以及由此引伸出来的应变、应力场测试、距离、速度测试、物体内在缺陷和振动分析是散斑效应有前途的应用领域。